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Santec重磅發(fā)布新一代測試利器:極性、插損、回損一體化測試探頭RD-SP
材料來源:santec 圣德科           錄入時間:2024/12/23 23:19:37

隨著數(shù)據(jù)中心、5G、千兆光網(wǎng)、算力等新型信息基礎設施建設的高速發(fā)展,特別是在數(shù)據(jù)中心領域,由人工智能應用驅(qū)動的光纜需求激增,對于光纖光纜行業(yè)帶了更多的挑戰(zhàn),快速的技術更新迭代讓光纖光纜行業(yè)經(jīng)歷著前所未有的技術創(chuàng)新與升級。

因此光纖光纜的性能測試也成為了各家廠家關注的重點,為了提高測試效率,Santec 重磅推出集Polarity(極性)、insertion Loss(插入損耗)和Return Loss(回波損耗)于一體的RD-SP探頭,RD-SP集成了Santec 新一代Gen2積分球和極性測試技術,搭配Santec高精度快速插回損測試儀RLM-100和光開關OSX-100,極大提高了測試效率。

RD-SP 特點 

  • 一次連接完成所有參數(shù)測試:Polarity / insertion Loss / Return Loss測試。
  • 支持多個探頭的復雜路由測試系統(tǒng):外置型探頭便于測試系統(tǒng)靈活配置搭建,配合RLM-100和OSX-100可最多連接16個RD-SP探頭,實現(xiàn)復雜場景的測量。
  • 配套軟件支持批量生產(chǎn):服務器端XNS和操作端Cable assembly software的搭配使用,適合于自動化批量生產(chǎn)環(huán)境。
  • 行業(yè)領先的測試速度:快速測量模式下測試一根MPO-12跳線兩個波長的極性/IL/RL總測試時間僅需35秒(在兩個波長下插損和回損的測試時間僅需30秒(快速測量模式)。
  • Multifiber assemblies測試:例如MPO、MMC和duplex LC等。

一種復雜路由場景的應用

同時用2個RD-SP來測試復雜的光纖路由系統(tǒng),實現(xiàn)一次連接測試極性、插損和回損。

文章來源:santec 圣德科

注:文章版權歸原作者所有,本文僅供交流學習之用,如涉及版權等問題,請您告知,我們將及時處理。


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