面對(duì)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng),光伏電池的生產(chǎn)成本和效率對(duì)于制造商來(lái)講正變得愈發(fā)重要。利用激光技術(shù)實(shí)現(xiàn)的發(fā)射極穿孔和選擇性摻雜能夠幫助光伏電池制造商提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。 作者:Klaus Stolberg,Peter Oesterlin,Gabriele Eberhardt 光伏(PV)產(chǎn)業(yè)正面臨著許多挑戰(zhàn),其中一個(gè)主要任務(wù)是降低太陽(yáng)能電池或組件的成本,另一個(gè)挑戰(zhàn)就是如何提高太陽(yáng)能電池板組件的效率。薄膜技術(shù)由于能夠?qū)崿F(xiàn)最低的每瓦價(jià)格,似乎在降低成本方面占據(jù)優(yōu)勢(shì);而硅晶(基于晶片)太陽(yáng)能電池板則在提高效率方面略勝一籌。目前,商用單晶硅電池的效率能達(dá)到12%~19%,當(dāng)然距離35%的理論目標(biāo)值依然相差甚遠(yuǎn)。太陽(yáng)能電池的損耗主要是由光反射、載流子復(fù)合、歐姆損耗、正面接觸造成的陰影效應(yīng)等原因造成的。新型太陽(yáng)能電池采用了一些降低上述損耗的解決方案。 背面接觸 以典型的太陽(yáng)能電池為例,正面前接觸布線(xiàn)占去多達(dá)10%的總面積,在光活性區(qū)形成陰影,導(dǎo)致電池輸出降低。如果在太陽(yáng)能電池背面布線(xiàn),就可以減小這種陰影效應(yīng),而“金屬穿孔卷繞”(MWT)技術(shù)和“發(fā)射極穿透”(EWT)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)這一點(diǎn)。這兩種技術(shù)都需要在160~200µm厚的硅片上鉆出50~100µm大小的通孔。背接觸可從背面和正面雙面集電(見(jiàn)圖1)。這不但有利于電池的電氣連接,而且由于背面接觸不再受陰影效應(yīng)的限制,從而降低了電阻(歐姆)損耗。
圖1:MWT(金屬穿孔卷繞)電池將發(fā)射極從正面“卷繞”至背面。完全背面布線(xiàn)是一個(gè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn),卷繞的正面接觸能占用更大面積。 MWT技術(shù)通常需要在1 ~2秒鐘內(nèi)鉆出約100個(gè)孔;而對(duì)于EWT技術(shù),孔的尺寸要小些,但是要以同樣的速度鉆出約1萬(wàn)個(gè)孔。目前的激光技術(shù)能夠滿(mǎn)足這兩種技術(shù)的要求,但是市面上能夠看到的MWT太陽(yáng)能電池板的數(shù)量還很少。商用MWT電池的效率比傳統(tǒng)電池的效率大約高1%。 要獲得較高的生產(chǎn)能力,一個(gè)關(guān)鍵因素是要在全部激光參數(shù)和聚焦條件,以及激光觸發(fā)與光束偏轉(zhuǎn)的同步之間確定最佳組合。眾所周知,脈寬約100ns時(shí),激光在硅中能夠達(dá)到最佳燒蝕速度(從而具有最快的鉆孔速度)。[1]應(yīng)用工程師強(qiáng)烈渴望在工藝中有這樣一個(gè)激光源,能夠獨(dú)立于重復(fù)頻率和脈沖能量之外來(lái)調(diào)節(jié)脈寬。面對(duì)這種需求,Jenoptik公司推出了一款名為JenLas disk IR50的激光器。 Jenoptik公司系統(tǒng)地研究了IR50激光器在MWT鉆孔方面的性能。在大約1500ns的最佳脈寬下,只需要5~7發(fā)激光脈沖就可以完全鉆通厚度為180µm的硅片(見(jiàn)圖2)。如果進(jìn)一步提高激光功率,所需的激光脈沖可以減少到3~4發(fā)。
圖2:IR50激光器的硅片鉆孔性能,圖中顯示了鉆通厚度為160~300µm的硅片時(shí)所需要的激光脈沖發(fā)數(shù)。 鉆孔后,接下來(lái)的步驟是受損刻蝕和鍍氮化硅(SiN)膜層,SiN膜被廣泛用作增透膜和鈍化層。由于SiN是電絕緣的,因此在必須再次將其去除,才能對(duì)電接觸進(jìn)行絲網(wǎng)印刷。[2],[3]切割過(guò)程中的熱效應(yīng)將會(huì)在塊狀硅(bulk silicon)中產(chǎn)生復(fù)合中心,而這是必須要避免的。避免其產(chǎn)生的最佳方式是使用飛秒激光脈沖,在這種情況下即使在激光切割之后,也能保持微觀棱錐結(jié)構(gòu)(見(jiàn)圖3)。研究人員也使用皮秒激光器進(jìn)行了實(shí)驗(yàn),但結(jié)果顯現(xiàn)出了一些熔化效應(yīng)。
圖3:顯微照片所示的是氫氧化鉀刻蝕后的c-Si表面結(jié)構(gòu)。單點(diǎn)飛秒激光加工(圓點(diǎn))沒(méi)有產(chǎn)生熔化效應(yīng),保持了原有結(jié)構(gòu)。 選擇性摻雜 除了采用背面接觸方法外,還有其他方法提高電池效率。在正面和背面接觸的傳統(tǒng)電池結(jié)構(gòu)框架下,激光擴(kuò)散或激光摻雜在晶硅太陽(yáng)能電池制造中是一個(gè)“熱門(mén)”話(huà)題。 所謂的硅“選擇性摻雜”,能夠降低接觸指下塊狀硅材料的電阻(歐姆損耗)。這種方法能將電池的絕對(duì)效率提高0.3%~0.5%。在該加工過(guò)程中,在硅材料被激光熔化的位置,磷涂層從表面擴(kuò)散到塊狀硅中。這個(gè)位置與隨后接觸指所在的位置是一致的。例如,與未經(jīng)處理區(qū)域120~150ohm/sq的損耗相比,激光處理區(qū)域的表面電阻能大幅降低到20ohm/sq(見(jiàn)圖4)。
圖4:選擇性發(fā)射體摻雜是一種基于激光的技術(shù),可以通過(guò)降低接觸電阻來(lái)提高光伏電池的效率。 研究人員對(duì)從紅外到紫外范圍內(nèi)的不同激光器類(lèi)型和不同波長(zhǎng)進(jìn)行了測(cè)試。紅外激光器具有非常高的功率,其在硅中輻射的滲透深度達(dá)幾百微米,導(dǎo)致許多激光功率由于在塊狀硅材料中所產(chǎn)生的熱量而損失掉。此外,還有跡象表明,采用紅外激光器比短波長(zhǎng)激光器產(chǎn)生了更多的晶格缺陷。 而在紫外波段,由于非常淺的表面層內(nèi)的高吸收,使得紫外激光非常適合激光擴(kuò)散。但現(xiàn)有紫外激光器的功率有限,最高通常只有20W,這遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足大量生產(chǎn)的需求。 綠光提供了一個(gè)較好的折衷方案,其提供的大約1µm的光學(xué)滲透深度非常適合0.5µm深的熱過(guò)程,并且現(xiàn)有綠激光的功率超過(guò)100W,完全能夠滿(mǎn)足大量生產(chǎn)的需求。采用連續(xù)光倍頻固體激光器,能夠很容易地將光束聚焦成一個(gè)小至20~40µm的點(diǎn)對(duì)晶片表面進(jìn)行高速掃描。但加工時(shí)間取決于光斑直徑和掃描速率的比值,加工時(shí)間通常在20~100微秒的范圍。該加工時(shí)間范圍內(nèi)的熱擴(kuò)散長(zhǎng)度為30~60µm,在這期間許多熱量擴(kuò)散到晶片體材料中。經(jīng)過(guò)測(cè)算,要達(dá)到每秒一個(gè)晶片的生產(chǎn)率至少需要600~800W的連續(xù)激光器功率。如此大的功率需求顯然有些不適合用作日常生產(chǎn)工具。 與此相反,調(diào)Q固體激光器提供脈寬為300ns或更短的脈沖,相應(yīng)的熱擴(kuò)散長(zhǎng)度只有3.5µm,約為連續(xù)光激光加工的10%。有了這樣的激光器,只需要200W的激光功率就可以達(dá)到相同的生產(chǎn)率,這對(duì)24/7的生產(chǎn)設(shè)備也是可行的。此外,Jenoptik公司還采用JenLas ASAMA以及其他激光器進(jìn)行了實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)結(jié)果也都大有發(fā)展前途,這也預(yù)示著這一加工方案距離走向?qū)嶋H生產(chǎn)已經(jīng)為時(shí)不遠(yuǎn)。[4],[5] 對(duì)于采用激光加工技術(shù)是否會(huì)帶來(lái)額外的生產(chǎn)成本這個(gè)問(wèn)題,答案是積極樂(lè)觀的。激光加工技術(shù)能將晶硅電池的絕對(duì)效率提高0.3%,也就是說(shuō),更高的電池效率能夠帶來(lái)更高的投資回報(bào),所獲得的回報(bào)能夠補(bǔ)償激光生產(chǎn)工具的折舊和運(yùn)行成本。 激光加工只有真正應(yīng)用到實(shí)際的生產(chǎn)線(xiàn)上, 才能成為一種加工工具。實(shí)際生產(chǎn)中,需要處理輕薄、易碎的晶片(通常厚度為180µm),需要簡(jiǎn)單可靠的分光器和光束整形,以將單束激光分成和接觸指一樣多的點(diǎn)。同時(shí),還要優(yōu)化將晶片送入到機(jī)器中的工序,使晶片送料/出料的時(shí)間最短。此外,由于激光處理線(xiàn)必須與要與應(yīng)用到后序加工步驟中的接觸指相匹配,因此晶片必須與激光擴(kuò)散成一條線(xiàn)。 所有這些方案都能提高太陽(yáng)能電池的效率,并且可以集成到JENOPTIK-VOTAN Solas 1800機(jī)器中,這是一款新型專(zhuān)業(yè)激光工具,每小時(shí)可以加工多達(dá)1800片晶片。晶片位置控制、原料儲(chǔ)存、安全燒蝕排氣閥,以及圖像處理和全自動(dòng)化的質(zhì)量控制都是實(shí)現(xiàn)24/7應(yīng)用需求的關(guān)鍵因素。目前該系統(tǒng)有兩種版本——研發(fā)新產(chǎn)品和工藝的獨(dú)立系統(tǒng),以及一個(gè)用于集成到現(xiàn)有生產(chǎn)系統(tǒng)中的技術(shù)模塊。 參考文獻(xiàn): 1. M. Leitner, E. Körner, Stuttgarter Lasertage, Proc. Stuttgart (2003). 2. F. Book et al., Proc. 23rd EC PVSEC, Sept. 1-5, 2008, Valencia. 3. K. Neckermann et al., 22nd EPSEC, Sept. 3-7, 2007, Milano. 4. M. Okanovic et al., Proc. 24th EUPVSEC, 2009, Hamburg, Germany. 5. J.R. Köhler et al., Proc. 24th EUPVSEC, 2009, Hamburg, Germany. 關(guān)于作者:Klaus Stolberg是JENOPTIK公司工業(yè)激光應(yīng)用經(jīng)理,Peter Oesterlin是Innovavent公司總經(jīng)理,Gabriele Eberhardt JENOPTIK公司應(yīng)用光伏/電子部門(mén)負(fù)責(zé)人。
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