霍爾傳感器簡(jiǎn)介

電流霍爾傳感器

霍爾元件將磁場(chǎng)的變化轉(zhuǎn)化為輸出電壓的變化，由于霍爾元件產(chǎn)生的電勢(shì)差很小，故通常將霍爾元件與放大器電路、溫度補(bǔ)償電路及穩(wěn)壓電源電路等集成在一個(gè)模塊上，稱之為霍爾傳感器。

霍爾傳感器是全球數(shù)量排名第三的傳感器產(chǎn)品，霍爾傳感器可以測(cè)量任意波形的電流和電壓，以其精度高、響應(yīng)快、測(cè)量范圍大、適用場(chǎng)景廣泛而應(yīng)用在變頻裝置、逆變裝置、電力電源、電焊機(jī)、機(jī)車、變電站、電網(wǎng)監(jiān)測(cè)等需要隔離檢測(cè)電流的設(shè)施中，包括工業(yè)、汽車電子、以及新興消費(fèi)電子領(lǐng)域。

未來幾年，隨著越來越多的汽車電子和工業(yè)設(shè)計(jì)企業(yè)轉(zhuǎn)移到中國，霍爾傳感器在中國市場(chǎng)的年銷售額將保持20%到30%的高速增長(zhǎng)。

 激光調(diào)阻機(jī)在霍爾傳感器制程中的應(yīng)用

在霍爾傳感器制程中，由于器件離散性原因，生產(chǎn)出來的產(chǎn)品一致性較差，且精度不一，在實(shí)際應(yīng)用中不能滿足使用要求。對(duì)于霍爾傳感器一般有輸出零位或滿程輸出等重要參數(shù)需要調(diào)整，傳統(tǒng)的電位器調(diào)整和人工手動(dòng)更換電阻調(diào)整方法調(diào)整其零位和輸出有著電壓精度不高、效率較低及人工成本較高等問題。

目前在電流霍爾傳感器調(diào)整領(lǐng)域中，最合適且最先進(jìn)的解決方案是采用激光調(diào)阻的方式。使用此激光調(diào)阻工藝可對(duì)電流傳感器零位和輸出進(jìn)行一次性調(diào)整，調(diào)整后產(chǎn)品的精度極高，一致性也大大提高，真正實(shí)現(xiàn)了效率最大化。運(yùn)用激光調(diào)阻技術(shù)更是提高了電流霍爾傳感器產(chǎn)品的成品率，提升了產(chǎn)品的檔次。

大族半導(dǎo)體測(cè)試實(shí)現(xiàn)的霍爾傳感器激光修調(diào)案例

以下是該案例的打樣工藝報(bào)告摘錄：

1、客戶的樣品(閉環(huán)霍爾電流傳感器)及需求

客戶樣品1：

打樣修調(diào)要求：供電電壓5V，輸出要求2.5V±3mV

客戶樣品2：

打樣修調(diào)要求：供電電壓±15V，輸出要求≤±6mV（采樣電阻200歐姆）

2、打樣參數(shù)、激光切口

打樣參數(shù)如下：

刀型：I 型

激光類型：紅外激光器

激光參數(shù)：功率3W，頻率1.7K

鐳切速度：5mm/s

激光切口展示：切口寬度35um

3、激光修調(diào)數(shù)據(jù)記錄

大族半導(dǎo)體測(cè)試推出的專用功能修調(diào)激光調(diào)阻機(jī)

HTS300-RH功能修調(diào)激光調(diào)阻機(jī)

激光調(diào)阻一般包含兩種調(diào)整方式：一種是無源修調(diào)，調(diào)節(jié)一個(gè)電阻以達(dá)到一個(gè)給定值；第二種是有源修調(diào)，也叫功能調(diào)阻，通過調(diào)整電路中的某些電阻，調(diào)節(jié)整個(gè)電路的輸出。此文中的電流霍爾傳感器修調(diào)就是一個(gè)典型的激光功能修調(diào)。在修調(diào)工藝過程中，要連續(xù)地測(cè)量相應(yīng)的參數(shù)并與所編輯的目標(biāo)值進(jìn)行比較。當(dāng)達(dá)到了目標(biāo)值時(shí)，激光會(huì)自動(dòng)停止，即實(shí)現(xiàn)了電路模塊的功能修調(diào)。

大族半導(dǎo)體測(cè)試公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)深諳功能調(diào)阻技術(shù)，從前期方案驗(yàn)證還是批量試產(chǎn)都可滿足客戶需求。近期更推出了以功能修調(diào)為主的激光調(diào)阻機(jī)，該款設(shè)備針對(duì)各類厚膜、薄膜混合電路功能修調(diào)而設(shè)計(jì)，整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊，操作便捷。可按產(chǎn)品需求靈活配置，通過高精度調(diào)阻實(shí)現(xiàn)電路的特定功能，例如：調(diào)零、調(diào)壓、調(diào)頻、調(diào)導(dǎo)通角、調(diào)限流點(diǎn)、調(diào)過壓點(diǎn)等。

轉(zhuǎn)自：大族半導(dǎo)體測(cè)試

注：文章版權(quán)歸原作者所有，本文內(nèi)容、圖片、視頻來自網(wǎng)絡(luò)，僅供交流學(xué)習(xí)之用，如涉及版權(quán)等問題，請(qǐng)您告知，我們將及時(shí)處理。